第6回 RC301「日本の電子実装産業の復活を目指す,電子実装の信頼性と熱制御に関する研究分科会」 実験・計測WG 開催案内

  RC301 実験・計測WG 主査  小金丸 正明

日時:6月16日(月)10:00〜12:00
Cisco Web ex によるネット配信.

プログラム

1. 熱インプリントを用いた10µmピッチ先鋭Cuバンプ形成技術および接合技術(10:00〜11:00)
  五十井 浩平 (パナソニック ホールディングス株式会社)

  先端半導体パッケージの接合ピッチの微細化が進行している中、Cuピラーバンプを用いた接合では、 端子間のショートが問題となる。本発表では、熱インプリントを用いた先鋭Cuバンプ形成技術 およびそれらを用いたCu直接接合技術について紹介する。 

2. 電子実装接合部に用いられる銅バンプ・銅薄膜の変形挙動予測の試み(11:00〜12:00)
  小金丸 正明 (鹿児島大学)

  本研究では,電解銅箔の微細組織の違いがその機械特性に与える影響の評価, および銅バンプの圧縮試験とDICによる変形計測を実施した. 本研究グループで実施している銅バンプ・銅薄膜の変形挙動予測の試みについて紹介する. 


 


見学をご希望の方は,
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をRC301 実験・計測WG 主査 小金丸 正明
(koganemaru(at)mech.kagoshima-u.ac.jp (at)を@に変えてください)までご連絡ください.
参加をご検討いただくために,1回に限り無料でご参加いただけます.